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新闻资讯 / NEWS
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德国欧库睿因推出第一台的参比椭偏仪
2016年2月16日至18日,德国欧库睿因(Accurion GmbH)全球经销商大会在欧库睿因欧洲总部、德国大学城----哥廷根举行。会上,德国欧库睿因发布了公司第一台的光谱型参比椭偏仪,它通过测量被测样品与参比样品的差别从而对被测样品进行椭偏分析。该椭偏仪具有光路设计精巧、测量速度超快、简单易用、稳定性好、测量精度高等多种优势。特别适用于大面积样品(硅晶圆、太阳能电池和石墨烯等)的薄膜厚度分布/残余应力测量和薄膜生长过程控制/动态测量,是质量检测、缺陷分析和表界面研究等领域的好工具。
넶0 2016-02-25 -
欧库睿因将参加2015年中国国际石墨烯创新大会
第二届中国国际石墨烯创新大会将于2015年10月28日至30日在海滨之城青岛国际会展中心举行。
鉴于德国欧库睿因(Accurion GmbH)成像椭偏仪(Nanofilm_EP4)在石墨烯研究领域的广泛应用以及石墨烯研究领域对成像椭偏仪的重要意义,德国欧库睿因将派出专业团队参加在青岛国际会展中心举办的2015年中国国际石墨烯创新大会。
我们的展位号为A025,敬请光临。넶95 2015-10-21
公司简介 / ABOUT US
德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)位于德国下萨克森州的哥廷根,公司起源于1991年从德国马克斯-普朗克生物物理化学研究所(Max-Planck Institute for biophysical chemistry in Goettingen)独立出来的高科技公司Nanofilm GmbH。德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)新公司于2008年由Nanofilm GmbH战略并购Halcyonics GmbH后更名而成立。
成像椭偏仪
联系地址:
上海市徐汇区裕德路168号徐汇商务大厦502 (200030)
联系电话:
021-50179099; 021-54590200
咨询邮箱:
Info@accurion.com.cn
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2018-03-26 Thickness-measurement-of-SiO2-layer-on-Si-wafer.pdf
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2018-03-26 Technology-ellipsometry-with-the-example-graphene.pdf
끂3198 1.81 MB -
2018-03-26 Principles-of-Imaging-Ellipsometry.pdf
끂3490 481.2 KB -
2018-03-26 Microstructured-lipid-bilayers.pdf
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关于欧库睿因
欧库睿因科学仪器(上海)有限公司
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