-
2018-03-26 Thickness-measurement-of-SiO2-layer-on-Si-wafer.pdf
끂4454 512.93 KB -
2018-03-26 Technology-ellipsometry-with-the-example-graphene.pdf
끂4203 1.81 MB -
2018-03-26 Principles-of-Imaging-Ellipsometry.pdf
끂4415 481.2 KB -
2018-03-26 Microstructured-lipid-bilayers.pdf
끂3968 753.45 KB
- 2018-04-02
- 2018-04-02
欧库睿因科学仪器（上海）有限公司
关于欧库睿因
联系地址：
上海市徐汇区裕德路168号徐汇商务大厦502 (200030)
联系电话：
021-50179099; 021-54590200
咨询邮箱：
Info@accurion.com.cn
Copyright 2011 ACCURION All Rights Reserved. 欧库睿因科学仪器（上海）有限公司 版权所有
沪ICP备17000656号-1 / 京公网安备11010802009035号
